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    FEI Nova NanoSEM 450超高分辨率扫描电子显微镜

    Nova NanoSEM 450扫描电子显微镜提供在纳米尺度下对材料表征和分析的解决方案。它简单的样品导航和电子束校准操作允许用户在最短的时间内获得最佳的测试结果。Nova NanoSEM 450拥有先进的光学和样品台控制系统,允许用户从任意角度获得样品信息。双模式(磁透镜浸入式和无磁式)提供各种样品极佳的对比度和分辨率。磁透镜浸入式能收集>95%的二次电子,这极大的提高了测试结果的信噪比。而同时采集二次电子和背散射电子可以实现对样品形貌和材料的轻松分辩。结合使用背散射探测器、浸入式磁透镜和减速模式更是可以实现对导电性差的样品表面的高精度成像。

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    技术指标:

    分辨率:0.8nm(最佳);

    电子着陆电压:20V - 30KV;

    电子束束流:0.6 pA - 200 nA;

    放大倍数:29´ - 1M´;

    探测器:二次电子探测器(ETD、TLD);背散射探测器(CBS);低真空探测器(LVD,Helix);红外CCD。

    样品室和样品台:

    XY: 110 ´ 110 mm;Z: 0 - 65 mm;

    旋转:n ´ 360o;倾斜:-15° / +75°;

    样品最大尺寸:Ø 150 mm(需旋转);

    Ø 300mm(不需旋转);

    样品最大高度:85mm;

    样品最大重量:500g;

    X射线能谱仪

    最新款牛津仪器X-MaxN 型X射线能谱仪是一款使用硅漂移探测器的EDS,集成新型的探测器芯片、电子元器件和新型的包装款式,使其能够发挥新一代硅漂移探测器的最佳性能。

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    能谱仪技术指标:

    分辨率:133eV;

    可分别的最低序数元素:Be;

    采集方式:点(point)、线(line)、面(mapping);

    点采样时间:>60s;

    校内收费标准:

    计价单位

    单价

    SEM

    小时

    600元

    不足1h按1h计,1h限测2个样品,每多1个样品加收300元,背散射模式每个样品加收300元,减速模式每个样品加收300元

    EDX点线扫描

    样品数

    200元

    单个样品限测2点/线,每多一个点/线加收100元

    EDX面扫描

    面数

    400元

    备注:院内收费半价,校外单位收费加倍。

    联系方式:

    电话:0531-88363606

    E-mail:xuhuayong@sdu.edu.cn

    请注意本室只接收:干燥、非磁性样品。

    送样请下载填写 SEM测试送样登记表”,经负责人签字后方可进行。

    本收费标准自2015年3月1日起执行

    纳电子研究中心